分选机

高精度分选,取放力可控,MAP计数拾取,分类


Wafer to Wafer, Wafer to Tray, Tray to Wafer


多品种,翻转90°,翻转180°,自动上下料


可增加AOI模块


贴片机

更精准的芯片贴装


更灵活的适应产品切换


更健康的生产管控


测量仪

高度测量


平面度测量


尺寸测量


分辨率0.1um


可增加AOI模块